碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法 (GB/T 30868-2014) 国家标准《碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
起草人：丁丽 、周智慧 、郝建民 、蔺娴等 。
此标准规定了利用熔融氢氧化钾腐蚀法测定碳化硅单晶微管密度的方法。此标准适用于碳化硅单晶微管密度的测定。