GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 (GB/T 5594.2-1985) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位：天津大学。

此标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。