GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 (GB/T 5594.1-1985) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位：电子部12所。

此标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。