GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 (GB/T 5594.5-1985) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位：南京电子管厂。

此标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。