GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 (GB/T 5594.4-1985) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。已被标准 GB/T 5594.4-2015（全部代替）

起草单位：天津大学。

此标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。