GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 (GB/T 5594.8-1985) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。已被标准 GB/T 5594.8-2015（全部代替）

起草单位：上海科技大学。

此标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。此标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。