GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 (GB/T 5594.3-1985) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。已被标准 GB/T 5594.3-2015（全部代替）

起草单位：电子部12所。

此标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。