半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的） (GB/T 4937.32-2023) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、合肥联诺科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司。
起草人：裴选 、张魁 、黄纪业 、席善斌 、彭浩 、魏兵 、林瑜攀 、颜天宝 。
此标准适用于半导体器件(分立器件和集成电路)，以下简称器件。此标准用于确定器件是否由于外部发热造成燃烧。
本试验使用针焰，模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。