电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理 (GB/T 42706.2-2023) 国家标准《电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州华宇电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、深圳市标准技术研究院、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司、惠州市特创电子科技股份有限公司、佛山市毅丰电器实业有限公司。
起草人：刘玮 、石东升 、晋李华 、彭勇 、闫萌 、张鑫 、彭浩 、崔波 、魏兵 、赵鹏 、麦日容 、徐昕 、米村艳 、何黎 、陈金星 、吴卫斌 。
此标准描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式，以及评估一般退化机理的试验方法。通常此标准与IEC 62435-1一起使用，用于预计贮存时间超过12个月的长期贮存器件。特定类型电子元器件的退化机理在IEC 62435-5~IEC 62435-9中加以规定。