半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法 (GB/T 4937.11-2018) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所。
起草人：张天福 、高金环 、彭浩 、李树杰 、于学东 、崔波 、裴选 、迟雷 、张艳杰 。
GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气一空气温度循环试验。
本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。
本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。
本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。