半导体集成电路 快闪存储器测试方法 (GB/T 36477-2018) 国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司。
起草人：菅端端 、陈大为 、钟明琛 、罗晓羽 、冯光涛 、倪昊 、赵子鉴 、董艺 、田万廷 、高硕 、闵昊 、刘刚 。
此标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
此标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。