半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 (GB/T 35007-2018) 国家标准《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。
起草人：陈雁 、罗彬 、郭超 、王会影 、李锟 、蔡志刚 、邬海忠 、钟科 。
此标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS,low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
此标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。