半导体集成电路 模拟开关测试方法 (GB/T 14028-2018) 国家标准《半导体集成电路 模拟开关测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子股份有限公司、西北工业大学。
起草人：张冰 、李雷 、陈志培 、闫辉 、朱华 、黄德东 。
此标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。
此标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。