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GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范

标准号
GB/T 15877-2013
下载格式
PDF
发布日期
2013-12-31
实施日期
2014-08-15
标准类别
国家标准
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简介

半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范 (GB/T 15877-2013) 国家标准《半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位:宁波东盛集成电路元件有限公司。

起草人:任忠平 、尹国钦 。

此标准规定了半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求和试验方法及检验规则。

此标准适用于半导体集成电路蚀刻型双列(DIP)封装引线框架(镀金及镀银),单列蚀刻型引线框架亦可参照使用。

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