当前位置:首页 > 标准 > 国家标准 > GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理

GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理

标准号
GB/T 4377-1996
下载格式
PDF
发布日期
1996-07-09
实施日期
1997-01-01
标准类别
国家标准
免费下载
简介

半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 (GB/T 4377-1996) 国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。已被标准 GB/T 4377-2018(全部代替)

起草单位:北京半导体器件五厂。

此标准规定了半导体集成电路电压调整器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。此标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试,不适用于双端(单端口)器件。

声明:资源收集自网络无法详细核验或存在错误,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误