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GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求

标准号
GB/T 35010.6-2018
下载格式
PDF
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
标准类别
国家标准
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简介

半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求 (GB/T 35010.6-2018) 国家标准《半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位:哈尔滨工业大学、中国航天科技集团公司第九研究院第七七二所、成都振芯科技股份有限公司、北京大学。

起草人:刘威 、张威 、王春青 、林鹏荣 、罗彬 、张亚婷 。

GB/T 35010的本部分用于指导半导体芯片产品的生产、供应和使用,半导体芯片产品包括:

晶圆;

单个裸芯片;

带有互连结构的芯片和晶圆;

最小或部分封装的芯片和晶圆。

本部分规定了所需的热仿真信息,在于促进电子系统热学行为和功能验证仿真模型的使用。电子系统包括带或不带互连结构的半导体裸芯片,和(或)最小封装的半导体芯片。本部分是为了使芯片产品供应链所有的环节都满足IEC 62258-1和IEC 62258-2的要求。

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