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GB/T 19921-2005 硅抛光片表面颗粒测试方法

标准号
GB/T 19921-2005
下载格式
PDF
发布日期
2005-09-19
实施日期
2006-04-01
标准类别
国家标准
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简介

硅抛光片表面颗粒测试方法 (GB/T 19921-2005) 国家标准《硅抛光片表面颗粒测试方法》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国有色金属工业协会。已被标准 GB/T 19921-2018(全部代替)

起草单位:北京有色金属研究总院。

此标准规定了应用扫描表面检查系统(SSIS)对硅抛光片表面颗粒进行测试、计数和报告的程序。此标准适用于硅抛光片,也可适用于硅外延片或其他镜面抛光片(如化合物抛光片)。此标准也可适用于观测硅抛光片表面的划痕、橘皮、凹坑、波纹等缺陷,但这些缺陷的检测、分类依赖于设备的功能,并与检测时的初始设置有关。注:此标准涉及的方法通常选用波长(48~6 33)nm的激光光源,最常用的是488nm的氩离子激光器;目前可测量的最小值颗粒直径为0.06μm或更小些。

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