半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命 (GB/T 4937.23-2023) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州信安电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、广东科信电子有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司。
起草人：冉红雷 、张魁 、张忠祥 、黄杰 、彭浩 、魏兵 、尹丽晶 、徐昕 、柯汉忠 、颜天宝 、刘银燕 。
此标准描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。此标准未规定老炼的详细要求和应用。