表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法 (GB/T 40128-2021) 国家标准《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：国家纳米科学中心、上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司、上海市计量测试技术研究院、北京粉体技术协会。
起草人：朱晓阳 、朱君 、常怀秋 、齐笑迎 、蔡潇雨 、周素红 。
此标准规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。
此标准适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量，测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100nm，其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。