表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 (GB/T 36401-2018) 国家标准《表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：厦门荷清教育咨询有限公司、清华大学化学系。
起草人：汤丁亮 、李展平 、岑丹霞 、姚文清 、刘芬 、王水菊 。
此标准给出了采用XPS对基材上薄膜的分析报告所需的最少信息量要求的说明。这些分析涉及化学组成和均匀薄膜厚度的测量，以及采用变角XPS、XPS溅射深度剖析、峰形分析和可变光子能量XPS的方式对非均匀薄膜作为深度函数的化学组成的测量。