非本征半导体材料导电类型测试方法 (GB/T 1550-2018) 国家标准《非本征半导体材料导电类型测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、广州市昆德科技有限公司、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、浙江海纳半导体有限公司、新特能源股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、峨嵋半导体材料研究所、洛阳中硅高科技有限公司、中锗科技有限公司、云南冶金云芯硅材股份有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、北京合能阳光新能源技术有限公司。
起草人：梁洪 、王莹 、赵晓斌 、高英 、王昕 、王飞尧 、黄黎 、徐红骞 、邱艳梅 、刘晓霞 、杨旭 、张园园 、刘新军 、徐远志 、程小娟 、潘金平 、肖宗杰 。
此标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
此标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照此标准测试。此标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。
此标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。