当前位置:首页 > 标准 > 行业标准 > YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

标准号
YS/T 679-2008
下载格式
PDF
发布日期
2008-03-12
实施日期
2008-09-01
标准类别
行业标准
免费下载
简介

非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 (YS/T 679-2008) 主管部门为国家发展和改革委员会。

起草单位:有研半导体材料股份有限公司

起草人:孙燕、卢立延 等

声明:资源收集自网络无法详细核验或存在错误,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误