半导体材料牌号表示方法 (GB/T 14844-2018) 国家标准《半导体材料牌号表示方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：浙江省硅材料质量检验中心、有色金属技术经济研究院、有研半导体材料有限公司、浙江海纳半导体有限公司、东莞市中镓半导体科技有限公司、南京国盛电子有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、苏州协鑫光伏科技有限公司、天津市环欧半导体材料技术有限公司。
起草人：楼春兰 、毛卫中 、杨素心 、汪新华 、邹剑秋 、孙燕 、潘金平 、刘晓霞 、马林宝 、宫龙飞 、张雪囡 、丁晓民 、贺东江 。
此标准规定了半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示方法。
此标准适用于半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示，其他半导体材料牌号表示可参照执行。