半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序） (GB/T 11498-2018) 国家标准《半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院。
起草人：冯玲玲 、陈裕焜 、雷剑 、王琪 、王婷婷 、管松林 。
《半导体器件 集成电路》的本部分适用于作为目录内电路或定制电路而制造的、其质量是以鉴定批准为基础评定的膜集成电路和混合膜集成电路。
本部分的目的是为额定值和特性提供优先值，从总规范中选择合适的试验和测量方法，并且给出根据本部分制定的膜集成电路和混合膜集成电路详细规范使用的通用性能要求。
优先值的概念直接应用于目录内电路，但是不必应用于定制电路。
参照本部分制定的详细规范所规定的试验严酷等级和要求可等于或高于分规范的性能水平，不准许有更低的性能水平。
同本部分相联系的有一个或多个空白详细规范，每个空白详细规范均给以编号。按照2.3规定填写空白详细规范，即构成一个详细规范。按IECQ体系的规定，该类详细规范可用于膜集成电路和混合 膜集成电路鉴定批准的授与和质量一致性检验。
注：对于试验程序有两个选择：程序A和程序B。但是不准许在程序A和程序B之间进行个别试验项目的调换。 通常，程序A更适用于基于无源元件的膜集成电路，程序B更适用于基于半导体集成电路技术的膜集成电路。