半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动 (GB/T 4937.12-2018) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所。
起草人：迟雷 、彭浩 、岳振鹏 、李树杰 、崔波 、高金环 、裴选 、张艳杰 。
GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。