工业级高可靠集成电路评价 第4部分： 非易失性存储器 (T/CIE 070-2020) 团体名称为中国电子学会
主要起草人：赵东艳、王于波、陈燕宁、邵瑾、张相飞、张鹏、张海峰、何凡、高小飞、朱松超、赵扬、孙云龙、钟明琛、胡雪、王东山、潘成、夏军虎、周芝梅、张永峰、王宏光、任军、赵阳、易君谓、张健、张志宇、钱文生、吴汉明、宫芳、黄强、吴峰霞、胡杰
起草单位：北京芯可鉴科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、杭州万高科技股份有限公司、国网思极紫光（青岛）微电子科技有限公司、北京银联金卡科技有限公司、辰芯科技有限公司、北京全路通信信号研究设计院有限公司、中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所、中车株洲电力机车研究所有限公司、北京博纳电气股份有限公司、深圳市力合微电子有限公司、上海华虹宏力半导体制造有限公司、芯创智(北京)微电子有限公司、通富微电子股份有限公司、中国石油天然气股份有限公司石油化工研究院
内容简要 本文件规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片（以下简称芯片）的检测要求、检测方法和检验规则等，暂不涉及ROM。本文件适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性…