集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量一TEM小室和宽带 TEM 小室法 (SJ 21147.2-2016)
SJ 21147.2-2016 集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量一TEM小室和宽带 TEM 小室法
标准号
SJ 21147.2-2016
下载格式
PDF
发布日期
2016-01-19
实施日期
2016-03-01
标准类别
行业标准
集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量一TEM小室和宽带 TEM 小室法 (SJ 21147.2-2016)
声明:资源收集自网络无法详细核验或存在错误,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
不能下载?报告错误