集成电路电磁发射测量方法 第3部分：辐射发射测量-表面扫描法 (SJ 21147.3-2016)
SJ 21147.3-2016 集成电路电磁发射测量方法 第3部分：辐射发射测量-表面扫描法
标准号
SJ 21147.3-2016
下载格式
PDF
发布日期
2016-01-19
实施日期
2016-03-01
标准类别
行业标准
相关信息
- SJ 21147.1-2016 集成电路电磁发射测量方法 第1部分:通用条件和定义
- QJ 3211-2005 混合集成电路 HB2824S12、HB2815D45 DC/DC变换器详细规范
- QJ 20008-2011 卫星导航接收机基带处理集成电路 性能要求及测试方法
- YDB 119-2013 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间单线协议（SWP）技术要求
- YDB 120.1-2013 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间单线协议（SWP）测试方法 第1部分：终端
- SJ 21147.3-2016 集成电路电磁发射测量方法 第3部分：辐射发射测量-表面扫描法