精密光频测量中光学频率梳性能参数测试方法 (GB/T 43736-2024) 国家标准《精密光频测量中光学频率梳性能参数测试方法》由TC578（全国量子计算与测量标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：中国科学技术大学、济南量子技术研究院、中国科学院物理研究所、中国计量科学研究院、中国信息通信研究院、华东师范大学、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所。
起草人：姜海峰 、张强 、侯磊 、王明磊 、陈法喜 、韩海年 、曹士英 、沈奇 、管建宇 、蒋燕义 、武腾飞 、缪新育 。
该标准描述了精密光频测量应用中光学频率梳性能参数的测试环境要求、测试设备配置要求、测试方法、测试报告。本文件适用于精密光频测量系统中所用光学频率梳的性能参数测试。