微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 (GB/T 43087-2023) 国家标准《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：北京科技大学。
起草人：权茂华 、柳得橹 。
此标准规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。
此标准适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。
此标准不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界而位置。