GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 (GB/T 20724-2021) 国家标准《微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

起草单位：北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院。

起草人：柳得橹 、娄艳芝 。

此标准描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。

此标准适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。