微束分析 分析电子显微学 术语 (GB/T 40300-2021) 国家标准《微束分析 分析电子显微学 术语》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所。
起草人：柳得橹 、汤斌兵 、贺连龙 。
此标准界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语，按照系统顺序中各自的层次分类。
此标准适用于所有和AEM实践相关的标准化文件。此外，此标准的某些部分适用于相关领域（如TEM，STEM，SEM，EPMA，EDX）通用术语的定义。
注：见ISO在线浏览平台（OBP）；https;//www.iso.org/obp/ui/