宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 (GB/T 43226-2023) 国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口上报，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。
起草人：赵元富 、陈雷 、王亮 、岳素格 、郑宏超 、李哲 、林建京 、李永峰 、陈淼 、王汉宁 。
此标准规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。
此标准适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。