宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法 (GB/T 43227-2023) 国家标准《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口上报，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。
起草人：赵元富 、姚全斌 、林鹏荣 、冯小成 、荆林晓 、李洪剑 、付明洋 、林建京 、曹燕红 、刘思嘉 、刘征宇 。
此标准规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。
此标准适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。