纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则 (GB/T 40007-2021) 国家标准《纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报，TC279SC1（全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分会）执行，主管部门为中国科学院。
起草单位：中国科学院山西煤炭化学研究所、冶金工业信息标准研究院、江苏省特种设备安全监督检验研究院[国家石墨烯产品质量监督检验中心（江苏）]、中国科学院物理研究所、国家纳米科学中心、中国计量科学研究院、苏州晶格电子有限公司、厦门大学、宁波大学、山西美锦能源股份有限公司、宁德时代新能源科技股份有限公司、嘉庚创新实验室。
起草人：陈成猛 、李晓明 、黄显虹 、栾燕 、葛广路 、孔庆强 、任玲玲 、刘峥 、丁海龙 、阮殿波 、孙国华 、苏方远 、朱庆华 、周涵韬 、魏奕民 、王勤生 、曹凌云 、杜兆丽 、李倩 。
此标准规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法，包括测量原理、仪器设备、测量条件、测量步骤、影响因素等。
此标准中静态四探针法（∧法）适用于纳米薄膜、纳米浆料和纳米粉体的电阻率测量；动态四探针法（B法）、动态四线两电极法（C法）适用于纳米粉体电阻率的测量。