非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 (GB/T 35003-2018) 国家标准《非易失性存储器耐久和数据保持试验方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京兆易创新科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司。
起草人：罗晓羽 、董艺 、郭晓宇 、高硕 、刘妙 、谢休华 。
此标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。
此标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。