电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 (GB/T 5594.4-2015) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、北京七星飞行电子有限公司。
起草人：曾桂生 、李晓英 、薛晓梅 。
GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH，温度从室温至500°C条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。