电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 (GB/T 5594.8-2015) 国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司。
起草人：江树儒 、曹易 、高永泉 、翟文斌 。
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。