半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) (GB/T 4937.4-2012) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所。
起草人:李丽霞 、陈海蓉 、崔波 。
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) (GB/T 4937.4-2012) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所。
起草人:李丽霞 、陈海蓉 、崔波 。
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
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