硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 (GB/T 1557-2006) 国家标准《硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法》由610（中国有色金属工业协会）归口上报及执行，主管部门为中国有色金属工业协会。已被标准 GB/T 1557-2018（全部代替）
起草单位：峨眉半导体材料厂。
起草人：梁洪 、覃锐兵 、王炎 。
此标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。此标准适用于室温电阻率大于0.1Ω?cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5Ω?cm的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。此标准测量氧含量的有效范围从1×10的16次方at/cm3到硅中间隙氧的最大固溶度。