GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 (GB/T 1553-1997) 国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。已被标准 GB/T 1553-2009（全部代替）

起草单位：峨嵋半导体材料厂。