电子材料晶片参考面长度测量方法 (GB/T 13387-1992) 国家标准《电子材料晶片参考面长度测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。已被标准 GB/T 13387-2009(全部代替)
起草单位:北京有色金属研究总院。
电子材料晶片参考面长度测量方法 (GB/T 13387-1992) 国家标准《电子材料晶片参考面长度测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。已被标准 GB/T 13387-2009(全部代替)
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