硅片径向电阻率变化的测量方法 (GB/T 11073-1989) 国家标准《硅片径向电阻率变化的测量方法》由610(中国有色金属工业协会)归口上报及执行,主管部门为中国有色金属工业协会。已被标准 GB/T 11073-2007(全部代替)
起草单位:峨嵋半导体材料研究所。
硅片径向电阻率变化的测量方法 (GB/T 11073-1989) 国家标准《硅片径向电阻率变化的测量方法》由610(中国有色金属工业协会)归口上报及执行,主管部门为中国有色金属工业协会。已被标准 GB/T 11073-2007(全部代替)
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