文档网
文档
资料
合集
标准
搜索
当前位置:
首页
>
文档
> GBT 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
GBT 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
下载
下载格式
PDF
文档信息
7页
浏览次数
4
收录日期
2024-09-22
需要下载券
1张
收藏
下载
免费下载
简介
半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则.pdf 下载页数7页
声明:资源收集自网络无法详细核验或存在错误,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
不能下载?报告错误
翻页:
GBT 12618.4-2006 开口型平圆头抽芯铆钉 51级
相关信息
GBT 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查
GBT 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理
GBT 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)
GBT 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度
GBT 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
热门标签
财务绩效考核表
解决方案
公司年会
开学第一课主题班会
教学评语
一年级家长会
荣誉证书
课堂教育
租赁合同
旅游相册
工程总结
自我评价
技术交底
放假通知
酒店工作计划
申请书模板
数学开学第一课
个人总结