电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） (GB/T 5095.2502-2021) 国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）》由TC166（全国电子设备用机电元件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。
起草人：庞斌 、朱茗 、肖淼 、刘俊 、汪其龙 。
GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量作为频率函数的衰减／插入损耗的频域法和时域法。
注：此标准从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结 果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。
