高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备 (T/BDT 003-2024) 团体名称为中国半导体行业协会
主要起草人：胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、高召、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙
起草单位：南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文电子科技有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
范围：本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验。
内容简要 同时支持LVDS、204B等数字接口，支持SPI、I2C等协议，支持采样率不高于12.5Gbps的全自动ADC芯片测试机。其SNR、SINAD指标可满足市面上绝大多数芯片的测试…