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T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

标准号
T/CNS 81-2022
下载格式
PDF
发布日期
2022-12-16
实施日期
2023-04-01
标准类别
团体标准
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简介

电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法 (T/CNS 81-2022) 团体名称为中国核学会

主要起草人:文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟

起草单位:中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部

范围:本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。

内容简要 本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。…

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