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T/CASAS 003-2018 p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片

标准号
T/CASAS 003-2018
下载格式
PDF
发布日期
2018-11-20
实施日期
2018-11-20
标准类别
团体标准
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简介

p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片 (T/CASAS 003-2018) 团体名称为北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

主要起草人:孙国胜、李锡光、杨霏、柏松、李诚瞻、高玉强、许恒宇、冯淦、胡小波、张乐年、房玉龙

起草单位:东莞市天域半导体科技有限公司、全球能源互联网研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十五研究所、株洲中车时代电气股份有限公司、山东天岳晶体材料有限公司、中国科学院微电子研究所、瀚天天成电子科技(厦门)有限公司、山东大学、台州市一能科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳第三代半导体研究院

内容简要 SiC半导体材料以其独特的优异性能,特别适合制作高压、超高压功率器件。10kV级以上高压/超高压SiC功率器件多为垂直结构的双极型器件,如SiCPiN二极管、IGBT及GTO晶…

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