人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 (T/CESA 1120-2020) 团体名称为中国电子工业标准化技术协会
主要起草人：宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、刘音、曹晓琦、袁圆、李强、 汪玉、葛广君、韩银和、李威、全振宇、许源、赵春昊、刘亦珩、张震宁、罗恒、刘勇、恽超、程新超、 张文蒙、梁枭、罗航、陆坚、代翔、王和国、王一鹤、王梦硕、钟明琛
起草单位：中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、清华大学、中国科学院计算技 术研究所、上海依图网络科技有限公司、上海熠知电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、北 京智芯微电子科技有限公司、中科寒武纪科技股份有限公司、阿里巴巴平头哥半导体有限公司、北京百 度网讯科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳云天励飞技术有限公司、第四范式 (北京)科技有限公司和北京芯可鉴科技有限公司
内容简要 本文件规定了对边缘侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于边缘侧深度学习芯片。本文件只规定边缘侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构…