电子元器件故障树分析方法与程序 (T/CIE 116-2021) 团体名称为中国电子学会
主要起草人:何小琦,陈媛,恩云飞,来萍,宋芳芳,王蕴辉,支越,路国光,任艳
起草单位:工业和信息化部电子第五研究所
内容简要 本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求,解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题,可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻…
电子元器件故障树分析方法与程序 (T/CIE 116-2021) 团体名称为中国电子学会
主要起草人:何小琦,陈媛,恩云飞,来萍,宋芳芳,王蕴辉,支越,路国光,任艳
起草单位:工业和信息化部电子第五研究所
内容简要 本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求,解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题,可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻…
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